注明:電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目,均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率:每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
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一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容:
序號 |
檢測位置 |
檢測方式 |
是否可檢 |
備注 |
1 |
尺寸檢測 |
背光檢測 |
可檢 |
局部檢測 |
注明:電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目,均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率:每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號:SP-T300非標定制機 外形尺寸:900*800*1850mm
組成部件清單:
序號 |
部件名稱 |
規(guī)格型號 |
數(shù)量 |
1 |
視覺檢測軟件 |
SIPOTEK |
1套 |
2 |
工業(yè)電腦 |
SIPOTEK定制 |
1套 |
3 |
顯示器 |
PHILIPS 19”液晶顯示器 |
1臺 |
4 |
工業(yè)相機 |
???000萬工業(yè)相機 |
2套 |
5 |
相機調(diào)節(jié)伺服模組 |
SIPOTEK定制 |
2套 |
6 |
工業(yè)鏡頭 |
遠心工業(yè)鏡頭 |
2套 |
7 |
光源 |
定制光學(xué)自適應(yīng)光源 |
2套 |
8 |
檢測平臺 |
SIPOTEK定制一鍵測量 |
1套 |
電子元器件外觀檢查設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
產(chǎn)品正面背光檢測打光效果圖
背光檢測良品分析圖: 引出中心到中心線的距離 可檢
背光檢測良品分析圖: 引出中心到端面的距離 可檢
背光檢測良品分析圖: 引腳到圓心的距離 可檢
產(chǎn)品側(cè)面背光檢測打光效果圖
背光檢測良品分析圖: 引腳到塑膠底面的距離 可檢
電子元器件外觀檢查設(shè)備采用工業(yè)照相機將被檢測的產(chǎn)品轉(zhuǎn)換成圖像信號,傳送給專用的圖像處理系統(tǒng),根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息,轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號,圖像處理系統(tǒng)對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征。電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測效率快、準確率高備受企業(yè)青睞。安徽思普泰克專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)電子元器件外觀檢查設(shè)備,如需獲取產(chǎn)品外觀檢測方案請登錄官網(wǎng)查閱:m.wkebao.cn